采樣示波器

簡要描述：為較具挑戰的系統設計提供信號高保真度。當前高速電路使得信號路徑檢定和BER分析的挑戰性進一步提高。由于較高的TDR帶寬、較快速的S參數測量功能及全面支持光學標準測試，DSA8200采樣示波器提供了完整的高速物理層測試平臺。

產品分類CLASSIFICATION

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詳細介紹

品牌	TeKtronix/美國泰克	產地類別	進口
應用領域	綜合

為較具挑戰的系統設計提供信號高保真度
當前高速電路使得信號路徑檢定和BER分析的挑戰性進一步提高。由于較高的TDR帶寬、較快速的S參數測量功能及全面支持光學標準測試，DSA8200數字串行分析儀提供了完整的高速物理層測試平臺。

DSA8200采樣示波器概述

功能	優點
最多4個真實差分通道	利用真實的差分TDR激勵信號準確地檢測非線性設備，如放大器。
高帶寬（50 GHz）時域反射儀	以12 ps 的入射級將阻抗不連續性分解至 1mm。
光學模塊噪聲低，光學靈敏度高，擁有消光比校準功能及寬波長。	通過一個光學測試解決方案，滿足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要標準。
IConnect® 信號完整性	利用集成的TDR和S參數測量減少由測試治具信號降級引起的測量錯誤。
串行數據網絡分析 (SDNA)	通過一個儀器進行時域和頻域分析來降低測試成本。準確地分析信號通路以預測信號串擾和抖動，確保可靠的系統運行。
串行數據鏈路分析 (SDLA)	通過抖動、噪聲和BER分析確定眼閉的準確原因。通過快速評估各種FE/DFE均衡設置增加接收器的眼睜時間。
遠程采樣頭	通過將TDR頭接近被測試設備來優化信號保真度和減小探頭、電纜及測試治具的影響。